德國(guó)菲希爾 FISCHERSCOPE® XUV® 773 X射線熒光測(cè)試儀

XUV® 773 X射線熒光測(cè)試儀 商品介紹

FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測(cè)量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測(cè)器能夠探測(cè)低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測(cè)量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni 的L輻射。大孔徑準(zhǔn)直器的使用提高了信號(hào)計(jì)數(shù)率，使儀器可以達(dá)到j(luò)i小的重復(fù)精度和很低的測(cè)量下限。XUV適合測(cè)量很薄的鍍層和痕量分析。

在測(cè)量的同時(shí)，可以直觀地查看測(cè)量點(diǎn)的影像。儀器測(cè)量空間寬大，樣品放置便捷，配合可編程的XYZ軸工作臺(tái)，既適合測(cè)量平面、大型板材類(lèi)樣品，也適合形狀復(fù)雜的樣品。并且使得連續(xù)測(cè)量分析鍍層厚度或元素分析也變得直觀而簡(jiǎn)單。儀器配有一個(gè)激光定位點(diǎn)作為輔助定位裝置，進(jìn)一步方便了樣品的快速定位。

基于儀器的通用設(shè)計(jì)以及真空測(cè)量箱所帶來(lái)的擴(kuò)展的測(cè)量能力，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用于研究和開(kāi)發(fā)，也適合過(guò)程控制和實(shí)驗(yàn)室使用。

XUV® 773 X射線熒光測(cè)試儀 商品特點(diǎn)

帶鈹窗口的微聚焦X射線銠管，可選鎢管和鉬管。最高工作條件：50 kV, 50W

X射線探測(cè)器采用珀?duì)柼吕涞墓杵铺綔y(cè)器

準(zhǔn)直器：4個(gè)，可自動(dòng)切換，從直徑0.1mm到3mm

基本濾片：6個(gè)，可自動(dòng)切換

可編程XYZ工作臺(tái)

攝像頭用來(lái)查看基本射線軸向方向的測(cè)量位置。刻度線經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)，顯示實(shí)際測(cè)量點(diǎn)大小。

可在真空，空氣或者氦氣的環(huán)境下工作

商品應(yīng)用

測(cè)量輕元素

測(cè)量超薄鍍層和痕量分析

常規(guī)金屬分析鑒定

非破壞式寶石分析

太陽(yáng)能光伏產(chǎn)業(yè)

德國(guó)菲希爾 FISCHERSCOPE® XUV® 773 X射線熒光測(cè)試儀實(shí)例應(yīng)用

種類(lèi)、來(lái)源和真實(shí)性，是評(píng)估寶石價(jià)值的本質(zhì)特征；而寶石材質(zhì)的分析結(jié)果則是影響判斷的決定性因素。通常，寶石的主要成份是鋁和硅的氧化物，還會(huì)伴隨有鎂和鈉等元素。另外，Cr、Fe、Ga等微量元素也是很重要的。XUV可以分析所有必要元素的光譜圖。

在多個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用中，非常薄的Al鍍層、Si鍍層、氧化鋁鍍層和氧化硅鍍層正在變得原來(lái)越重要。在真空環(huán)境中鍍層厚度的測(cè)量結(jié)果有顯*的提高。使用XUV來(lái)測(cè)量這些鍍層，重復(fù)精度僅幾個(gè)納米。